半導體特性測試儀|深圳華清儀器儀表有限公司

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	日本KDK TCT-2003半導體特性曲線分析儀\|TCT-2003半導體特性曲線分析儀		280000
	日本KDK TCT-2003半導體特性曲線分析儀\|TCT-2003半導體特性曲線分析儀的特點: 最大

	日本KDK TCT-2004半導體特性曲線分析儀\|TCT-2004半導體特性曲線分析儀		340000
	日本KDK TCT-2004半導體特性曲線分析儀\|TCT-2004半導體特性曲線分析儀的特點: 可程

	TCT-2005半導體特性曲線分析儀\|日本KDK TCT-2005半導體特性曲線分儀		248000
	日本KDK TCT-2003半導體特性曲線分析儀\|TCT-2003半導體特性曲線分儀的特點: 參數的

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